MarSurf LD 130 综合性轮廓和表面测量站

最高精度用于粗糙度和轮廓及 130 mm 测量路径

Mahr 计量的先进技术实现一步完成轮廓和粗糙度测量。MarSurf LD 130 和 MarSurf LD 260 测量站在第一代设备经验的基础上，又经过系统化的设计。各种应用中的测量任务越来越需要同时测量轮廓和粗糙度深度。测量仪器必须有很高的测量性能才能满足这些要求。亚纳米级分辨率和残余噪声 <20 nm Rz 只是一些基本要求。

优点:

一步完成粗糙度和轮廓测量高测量和定位速度可大幅减少测量时间

创新的测头系统解决方案，快速可靠的测杆更换，磁性支架同步检测测杆

长测量长度，高达 130 mm，测量行程 13 mm（100 mm 测杆长度）或 26 mm（200 mm 测杆长度）。模块结构，方便维护