菲希尔 FISCHERSCOPE XDV-SDD

特点：

1. 高级型号仪器，具有常见的所有功能

2. 射线激发量的灵活性最大，激发量可根据测量面积大小和光谱组成而改变

3. 通过硅漂移探测器，在 > 10万cps（每秒计数率） 的超高信号量下也可以正常工作，而不会出现能量分辨率的降低

4. 极低的检测下限和出色的测量重复度

5. 带有快速、可编程 XY 工作台的自动测量设备

6. 大容量便于操作的测量舱

典型应用领域：

1. 测量极薄的镀层，例如应用于电子和半导体行业中

2. 痕量分析，例如根据 RoHS、玩具标准、包装标准对有害物质进行检测

3. 进行高精度的黄金和贵金属分析

4. 光伏产业

5. 测量 NiP 镀层的厚度和成分