Mahr MarSurf XR 20粗糙度测量仪

MarSurf XR 20，高级表面度量的优质选项。

该计算机仪器根据国际标准为测量室或生产提供所有常见表面参数和轮廓。强大的 MarSurf XR 20 将数十年的表面度量经验与创新技术、方便阅读的图标和用户友好的操作员协助结合。

超过 100 种符合 ISO / JIS、ASME 或 MOTIF (ISO 12085) 标准的表面参数可用于 R-、P- 和 W 轮廓

所有表面参数的公差监控和统计

快速创建 Quick&Easy 测量程序的 Teach-in 方法

全面的测量记录

根据标准选择滤波和扫描长度的自动功能

通过设置 Ra 或 Rz 参数支持各种校准方法（静态/动态）

可调维护和校准间隔

快速熟悉操作原理的模拟模式

多种测量站配置可使用自定义应用